Fujiwork富士  薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀  HKT-Master0.01AA

一種通過保持測量頭的下降速度恒定來消除測量者的測量偏差的測量裝置

舒適、準確地測量超薄膜

測量分辨率：0.01μm

測量范圍：500μm

探頭 R30 硬質合金球

測量力：0.14N

Fujiwork富士  薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀  HKT-Master0.01AA

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